高低溫試驗箱的靜電引發(fā)的危害

一、高低溫試驗箱靜電放電(ESD)形成的風險：

　　1、引起高低溫試驗箱的問題或者誤動作，形成電磁干擾;

　　2、擊穿集成電路和精細電子元器件，或促使元器件老化增加產(chǎn)品故障率;

　　3、高壓靜電放電形成電擊，危及人身安全;

　　4、在易燃易爆品或粉塵、油污密集的場合極其容易引起爆炸。 

　　二、靜電引起(ESA)引起的風險：

　　1、電子工業(yè)：吸附灰塵，造成集成電路和半導體元器件覆蓋塵埃大大降低產(chǎn)品運行效率;

　　2、膠片和塑料工業(yè)：容易使膠片或薄膜收卷不齊，膠片、CD塑盤沾染灰塵影響質(zhì)量;

　　3、造紙印刷工業(yè)：紙張收卷不齊，套印禁絕，吸污嚴重，甚至紙張黏結(jié)，影響出產(chǎn);

　　4、紡織工業(yè)：形成根絲飄動、纏花斷頭、紗線糾結(jié)等風險。

　　上述問題就是關于靜電所引發(fā)的相關危害的描述，當然在高低溫試驗箱大型制造廠家都會有相關的防護措施杜絕靜電額產(chǎn)生